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相位法測距儀的相關概述
發(fā)布時間: 2021-09-01  點擊次數(shù): 1180次

相位法測距儀的相關概述

        相位測距一般用于精密測距。由于其精度高,一般為毫米級,為了有效地反射信號并將被測目標限制在與儀器精度相稱的特定點上,這種測距儀配備了反射,稱為協(xié)同目標。鏡子。
        相位激光測距一般用于精密測距。由于其精度高,一般在毫米級,為了有效地反射信號并將被測目標限制在與儀器精度相稱的特定點,這種測距儀配備了反射,稱為協(xié)同目標。鏡子。
        若調制光角頻率為ω,在待測距離D上往返一次造成的相位延遲為φ,則對應的時間t可表示為:
         t=φ/ω
        將此關系代入(3-6) 距離D可表示為
        D=1/2 ct=1/2 c•φ/ω=c/(4πf) (Nπ+Δφ)
         =c/4f (N+ΔN)=U(N+)
        其中: φ——信號來回測量線一次引起的總相位延遲。
         ω——調制信號的角頻率,ω=2πf。
         U——單位長度,取值等于1/4調制波長
        N——測量線包含的調制半波長數(shù)。
         Δφ——信號來回測量線時的相位延遲小于π。
         ΔN——測線中包含的調制波小于一半波長的小數(shù)部分。
         ΔN=φ/ω

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