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硅材料復合測試儀|SZT-5|

硅材料復合測試儀

一,概述;

SZT-4硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的

1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率

在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進行修整，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴散和導電薄膜“方塊電阻“的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。

SZT－4數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。

2，整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別

     本儀器工作環(huán)境條件為：

     　　溫　　度：18℃―25℃

           相對濕度：50%－70%

     工作室內(nèi)應無強電場干擾，不與高頻設(shè)備共用電源。

二，技術(shù)參數(shù)

1,測量范圍

（1）電阻率測量：

     電阻率       0.01-200Ω-cm

2,數(shù)字電壓表

     （1）量    程 :       200mV單一量程

     （2）誤    差:      讀數(shù)±0.2%±3字

（3）輸入電阻 :      >10MΩ

3,恒流源

     （1）電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào)

     （2）量    程             1mA, 10mA

     （3）誤    差             ±0.2%±3字,

4,手持式四探針測試頭

（a）探 針 間 距::      1mm

（b）探針機械游移率:      ±1.0%

（c）探 針 材 料:      碳化鎢,φ0.

（d）壓力: zui大 2Kg

（2）導電類型判別：

可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于"重摻"。

方塊電阻       0.01-200Ω-口

電    阻       0.01-200.0Ω

硅材料復合測試儀|SZT-5|